Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів
2

Low frequency noise characterization and modelling in ultrathin oxide MOSFETs

Рік:
2006
Мова:
english
Файл:
PDF, 432 KB
english, 2006
7

New approach for the gate current source–drain partition modeling in advanced MOSFETs

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 179 KB
english, 2003
17

In-depth physical investigation of GeOI pMOSFET by TCAD calibrated simulation

Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 900 KB
english, 2011